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GLRT-600型高低温探针台
GLRT-600型高低温探针台根据制冷方式分为液氮制冷和GM制冷机两种,温度范围从-260℃度到600℃C可控。产品兼容低至1pA的直流信号,50GHz的高频信号以及1KV的高压信号;显微镜、探针、变...
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BLRT-600型背面探针型冷热台
BLRT-600型背面探针型冷热台适合电极在样品背面的情况,探针可耐受高低温环境重复使用。上部观察窗口离样品距离较远,不需要进行气体吹扫来防止窗口表面结露。提供外部接线盒,用于信号切换,结合外部的湿度...
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ZLRT-600型正面探针型冷热台
ZLRT-600型正面探针型冷热台适合测试探针需要接触到样品正面的情况,测试探针可前后伸缩和自由转动,因此使用起来灵活方便。根据探针和样品的接触状况,可选择不同材质和触点形状的探针。配套:A2505(...
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CLRT-1200正面探针型超高温冷热台
CLRT-1200正面探针型超高温冷热台采用高温加热元件,可以在1200℃下长期稳定使用;采用高温陶瓷固定探针臂,保证高温下探针稳定可靠;可增加一路温度信号,用于和其它测试软件结合;配套:A2505(...
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1600℃绝缘材料超高温电阻率测试仪
HTIM-1600超高温绝缘电阻测试仪采用使用方法多样化,最大2000V,最快6.4ms的采集系统,实现了是以往产品300倍的抗干扰功能最快6.4ms的高速测量,作为皮安表使用进行低电容检查,最高2&...
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精科智创PVDF薄膜材料铁电测试仪
本测试系统由主控器、高压放大器、变温综合测试平台(配铁电测试盒)或高低温探针台(配高压探针)、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了可编程波形发生器、内置驱动电压、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器...
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无铅压电陶瓷D33测试仪
ZJ-3型压电测试仪(静压电系数d33测量仪)是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器,它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷,小压电常数的压电单晶及压电高分子材料,PVDF薄膜压样品。ZJ-4扩展...
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一体化DHM动态电滞回线铁电测试仪
FE-5000W型电致应变铁电测试仪是一款高量程款的铁电性能材料测试装置,这款设备可以适用于铁电薄膜、铁电体材料(既可块体材料)的电性能测量,可测量铁电薄膜电滞回线、可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜值...
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GFQLR-200半导体制冷积分球冷热台
GFQLR-200半导体制冷积分球冷热台半导体制冷原理的冷热台,体积小变温速度快,直接贴附在积分球上使用。可适用于透射和反射情况。散热可选择水冷和风冷方式。附件:可另外增加一路样品温度采集
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GQGT-600型光纤光谱仪冷热台
GQGT-600型光纤光谱仪冷热台光纤光谱仪可用于变温的光学投射或反射测量,也可以用于样品被紫外线或X射线激发后的光学测量。温控软件可集成温度和光谱数据,并实时显示和保存。
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GPLR-600型小型光谱仪冷热台
GPLR-600型小型光谱仪冷热台体积小巧、温度范围广。 内部可以增加最多四个电学探针,可实现在光学测量的同时可进行电信号测量。 可以增加侧面支架和气氛接头,使用非常灵活。
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BDTGP-100型半导体制冷光谱仪冷热台
BDTGP-100型半导体制冷光谱仪冷热台可配合光谱仪使用,体积小变温速度快,适合千研究二氧化钢等半导体材料
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