JKZC-BMZD01型薄膜介电常数（ε）及损耗测试仪（tgd）是目前针对PVDF薄膜材料，是一款真正意义上的绝缘薄膜材料介电常数及介质损耗测试仪。是目前能够处理的介电常数（ε）和介损（tgd）的图谱。GB/T1693-2007主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备，测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具，通过软件可以采集到介损（tgd）及介电常数（ε）器件的介电性能测量与分析，可测试以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反

PV520A-S超声元件阻抗分析仪是由清华大学自动化系和中国科学院声学所共同研制开发的。测试如下以及十多个参数：谐振频率 Fs 、大电导 Gmax 、带F2-F1 、反谐振频率 Fp 、品质因数 Qm 、自由电容 CT 、动态电阻 R1 、动态电感L1 、动态电容 C1 、静态电容 C0 、有效机电耦合系数 Keff 。用于压电超声器件和设备的检测综合性解决方案.也是目前高校和生产单位的重要检测仪

TSDC-100型高低温热刺激电流测量仪,热激励去极化电流测量系(thermally stimulated depolar-ization currents,简写为TSDC或TSC)是电介质材料在受热过程中建立极化态或解除极化态时所产生的短路电流。基本方法是将试样夹在两电极之间，加热到一定温度使样品中的载流子激发，然后施加一个直流的极化电压，经过一段时间使样品充分极化，以便载流子向电极漂移或偶极子

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备，测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具，通过软件可以采集到介损（tgd）及介电常数（ε）器件的介电性能测量与分析，可测试以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算