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  • ZJ-3A/B/J型压电测试仪
    ZJ-3A/B/J型压电测试仪 ZJ-3A/B/J型压电测试仪(静压电系数d33测量仪)是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器,它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷,小压电常数的压电单晶及压电高分子材料。此外,也可测量任意取向...
  • JKZC-RY600型超高温智能数控热压机
    JKZC-RY600型超高温智能数控热压机 该系列JKZC-RY600型超高温智能数控热压机使用于压制成型各类橡胶模型制品及非模型制品的主要设备,也可用于压制各类热固性塑料及发泡性橡塑制品。具有独立的动力机构和电器系统,采用按钮集中控制。工作压...
  • ZJ-5型堆栈式压电陶瓷D33测试仪
    ZJ-5型堆栈式压电陶瓷D33测试仪 堆栈式压电陶瓷由多个薄片状的压电陶瓷元件通过电极交替堆叠而成。这些压电陶瓷片通常具有较小的厚度,一般在几十微米到几百微米之间,而直径或边长则可以根据具体应用需求在几毫米到几十毫米范围内变化。
  • PZT-DJ30/20型堆栈式压电陶瓷极化装置
    PZT-DJ30/20型堆栈式压电陶瓷极化装置 PZT-DJ30/20型堆栈式压电陶瓷极化装置是一种专门应用于堆栈式压电陶瓷极化的极化装置,堆栈式压电陶瓷由多个薄片状的压电陶瓷元件通过电极交替堆叠而成。这些压电陶瓷片通常具有较小的厚度,一般在几十微...
  • HEM-200 高低温霍尔效应测试系统
    HEM-200 高低温霍尔效应测试系统 系统组成:HEM-200 高低温霍尔效应测试系统本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。本套系统测试应用的是最新的KEITHLEY...
  • HEM-500HA高低温电磁型
    HEM-500HA高低温电磁型 HEM-500HA高低温电磁型全自动霍尔效应测试系统本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦,控温仪,系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH...
  • FE-5000型宽量程铁电性能测试仪
    FE-5000型宽量程铁电性能测试仪 FE-5000型宽量程铁电性能测试仪是一款高量程款的铁电性能材料测试装置,这款设备可以适用于铁电薄膜、铁电体材料(既可块体材料)的电性能测量,可测量铁电薄膜电滞回线、可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜值...
  • JKZC-BMZD01型薄膜介电常数
    JKZC-BMZD01型薄膜介电常数 JKZC-BMZD01型薄膜介电常数(ε)及损耗测试仪(tgd)是目前针对PVDF薄膜材料,是一款真正意义上的绝缘薄膜材料介电常数及介质损耗测试仪。是目前能够处理的介电常数(ε)和介损(tgd)的图谱...
  • JKZC-ZCBR9界面材料热阻测试仪
    JKZC-ZCBR9界面材料热阻测试仪 JKZC-ZCBR9界面材料热阻测试仪一款适用于均质及非均质之导热电绝缘热界面材料的等效热传导系数与热阻抗测试,如:导热膏、导热片、导热胶、界面材料、相变化材料、陶瓷、金属、基板、铝基板、覆铜基板、软...
  • D33测试仪材料在医学先进材料试验室应用
    D33测试仪材料在医学先进材料试验室应用 ZJ-4型压电测试仪(静压电系数d33测量仪)是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器,它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷,小压电常数的压电单晶及压电高分子材料。此外,也可测量任意取向压电单晶以...
  • 复合型多功能薄膜及陶瓷极化装置(三合一)
    复合型多功能薄膜及陶瓷极化装置(三合一) PZT-FJH30 /3真空、空气,气氛,硅油压电陶瓷高压极化装置(30KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样)主要用于30KV以下压电陶瓷或其它压电材料的极化处理,广泛应用于高校及从事压电材料研究或...
  • TSDC-200型高低温热刺激电流测量仪
    TSDC-200型高低温热刺激电流测量仪 TSDC-200型高低温热刺激电流测量仪,热激励去极化电流测量系(thermally stimulated depolar-ization currents,简写为TSDC或TSC)是电介质材料在受热...
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