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  • HTIM-300型高低温材料电阻率测试仪
    HTIM-300型高低温材料电阻率测试仪 HTIM-300高低温材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试,该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发,可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率,可以分析被测样品电阻和电...
  • 摩擦纳米发电Keithley吉时利6514型静电计
    摩擦纳米发电Keithley吉时利6514型静电计 在高阻抗和低电流测量领域,Keithley吉时利6514型静电计是重要仪器。它能够从三个敏感选项中进行选择,实现J确的测量。其5½位精度,1fA的灵敏度以及大于200TΩ的输入阻抗,使其在电...
  • 中科院上微所JKZC-LRT400冷热台成功交付
    中科院上微所JKZC-LRT400冷热台成功交付 中科院上海微系统所定制JKZC-LRT400冷热台成功交付中国科学院上海微系统与信息技术研究所是我国著名的技术学科综合性研究所之一,前身是成立于1928年的国立中央研究院工程研究所。自建国以来,上海微...
  • TDJC-5000型电滞回线及高电压介电击穿强度
    TDJC-5000型电滞回线及高电压介电击穿强度 TDJC-5000型电滞回线及高电压介电击穿强度测试系统是一款高量程款的铁电性能材料测试装置,这款设备可以适用于铁电薄膜、铁电体材料(既可块体材料)的电性能测量,可测量铁电薄膜电滞回线、可测出具有非对...
  • GWJDN-0.1HZ型四通道超低频高温介电测量
    GWJDN-0.1HZ型四通道超低频高温介电测量 GWJDN-0.1HZ型四通道超低频高温介电测量系统应用于高温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析,通过配置不同的测试设备,完成不同参数的测试。是一款超低频高低温四通道介电测试系统,科研级别是国...
  • GLRT-600型高低温探针台
    GLRT-600型高低温探针台 GLRT-600型高低温探针台根据制冷方式分为液氮制冷和GM制冷机两种,温度范围从-260℃度到600℃C可控。产品兼容低至1pA的直流信号,50GHz的高频信号以及1KV的高压信号;显微镜、探针、变...
  • BLRT-600型背面探针型冷热台
    BLRT-600型背面探针型冷热台 BLRT-600型背面探针型冷热台适合电极在样品背面的情况,探针可耐受高低温环境重复使用。上部观察窗口离样品距离较远,不需要进行气体吹扫来防止窗口表面结露。提供外部接线盒,用于信号切换,结合外部的湿度...
  • ZLRT-600型正面探针型冷热台
    ZLRT-600型正面探针型冷热台 ZLRT-600型正面探针型冷热台适合测试探针需要接触到样品正面的情况,测试探针可前后伸缩和自由转动,因此使用起来灵活方便。根据探针和样品的接触状况,可选择不同材质和触点形状的探针。配套:A2505(...
  • CLRT-1200正面探针型超高温冷热台
    CLRT-1200正面探针型超高温冷热台 CLRT-1200正面探针型超高温冷热台采用高温加热元件,可以在1200℃下长期稳定使用;采用高温陶瓷固定探针臂,保证高温下探针稳定可靠;可增加一路温度信号,用于和其它测试软件结合;配套:A2505(...
  • 1600℃绝缘材料超高温电阻率测试仪
    1600℃绝缘材料超高温电阻率测试仪 HTIM-1600超高温绝缘电阻测试仪采用使用方法多样化,最大2000V,最快6.4ms的采集系统,实现了是以往产品300倍的抗干扰功能最快6.4ms的高速测量,作为皮安表使用进行低电容检查,最高2&...
  • 精科智创PVDF薄膜材料铁电测试仪
    精科智创PVDF薄膜材料铁电测试仪 本测试系统由主控器、高压放大器、变温综合测试平台(配铁电测试盒)或高低温探针台(配高压探针)、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了可编程波形发生器、内置驱动电压、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器...
  • 无铅压电陶瓷D33测试仪
    无铅压电陶瓷D33测试仪 ZJ-3型压电测试仪(静压电系数d33测量仪)是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器,它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷,小压电常数的压电单晶及压电高分子材料,PVDF薄膜压样品。ZJ-4扩展...
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