当前位置:首页  >  产品中心
产品分类PRODUCT

我们相信好的产品是信誉的保证!

  • 高温绝缘材料电阻率测试仪 电阻测试仪
    高温绝缘材料电阻率测试仪 电阻测试仪 HTIM-1000高温绝缘材料电阻率测试仪 电阻测试仪/GB-T10581-2006绝缘材料在高温下电阻和电阻率主要用于评估测量绝缘材料电学性能,该系统采用三环电极法设计原理并结合GB-T 10581...
  • 铁电性能综合测试仪(适用于铁电薄膜、铁电体材料的电性能测量)
    铁电性能综合测试仪(适用于铁电薄膜、铁电体材料的电性能测量) TDZT-04型铁电性能综合测试仪是适用于铁电薄膜、铁电体材料(既可块体材料)的电性能测量,铁电测试仪可测量铁电薄膜电滞回线,可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。
  • 压电阻抗分析仪(供应北京/上海/杭州等全国各地)
    压电阻抗分析仪(供应北京/上海/杭州等全国各地) JZKC-YDZK03A压电阻抗分析仪是专门用于压电材料测试,主要是测试压电材料的正反谐振频率,正反谐振阻抗及压电材料的电容等相关系数,是一款压电器件的科学研究重要辅助工具,而且可以配合压陶瓷压电分析...
  • 积层静压电系数测试仪d33测量仪
    积层静压电系数测试仪d33测量仪 ZJ-5型积层压电测试仪(积层静压电系数d33测量仪)是为测量积层压电材料的d33常数而设计的仪器,它可用来测量具有积层大压电常数的压电陶瓷,小压电常数的压电单晶及压电高分子材料。ZJ-5型积层静压电...
  • TEC1-X热电材料温差电致冷组件测试系统
    TEC1-X热电材料温差电致冷组件测试系统 TEC1-X热电材料温差电致冷组件测试系统是一款新推出来专用于温差发电片检测的装置,该设备可以同时测试最大温差△Tmax(℃):最大温差电流 Imax(A):最大工作电压 Umax(V):最大产冷量 ...
  • SNP-100型热电材料制冷片综合测试仪
    SNP-100型热电材料制冷片综合测试仪 SNP-100热电材料制冷片综合测试仪是一款即可采用整流法(也称三探针法)和温差法来测量N 型或 P 型,同时又可以测试制冷片(温差发电片)的电阻和赛贝克系数,该仪器特别采用工控指示开关,显示清晰、经...
  • P11.X100一维X向小体积压电纳米定位台
    P11.X100一维X向小体积压电纳米定位台 JKZC-P11系列小体积压电纳米定位台为小体积1~3维压电平移台,JKZC-P11.X为一维小体积压电纳米定位台,平台内部采用无摩擦柔性铰链导向机构,一体的结构设计,多维运动无耦合。 机构放大式驱动...
  • JKZC-P84.X一维X向压电测微头
    JKZC-P84.X一维X向压电测微头 JKZC-P84为标准测微头与可产生高分辨率位移的压电陶瓷机构相结合,通过手动调节大范围的测微头实现13mm大范围的移动,再通过控制驱动电压,使压电陶瓷机构相应伸长或缩短到预定位置,从而实现对压电陶瓷...
  • JKZC-P83.X一维X向压电测微头
    JKZC-P83.X一维X向压电测微头 JKZC-P83为标准测微头与可产生高分辨率位移的压电陶瓷机构相结合,通过手动调节大范围的测微头实现13mm大范围的移动,再通过控制驱动电压,使压电陶瓷机构相应伸长或缩短到预定位置,从而实现对压电陶瓷...
  • JKZC-P70.Z 压电纳米定位台
    JKZC-P70.Z 压电纳米定位台 JKZC-P70系列压电扫描台具有两个版本,分别为二维 XY向运动、一维 Z 向运动。两个版本在四个角的位置都具有四个通孔,孔心距为 30mm,非常适于笼式结构的安装。XY运动版本额外具有四个沉孔,也...
  • JKZC-P66.Z30高分辨率压电纳米定位台
    JKZC-P66.Z30高分辨率压电纳米定位台 JKZC-P66.Z直驱压电平移台,是一维Z轴运动高分辨率压电定位台,采用压电陶瓷直驱机构的设计原理,具有体积小、无摩擦、响应速度快等特点,配置高精度传感器,可以实现纳米级分辨率、定位精度具有可靠性,...
  • JKZC-P66.X60一维X向高分辨率压电纳米
    JKZC-P66.X60一维X向高分辨率压电纳米 JKZC-P66.X60高分辨率压电纳米定位台以压电陶瓷为驱动源并采用直驱式驱动机构的压电位移平台,是压电与柔性铰链相结合的纳米定位系统,可达毫秒级响应、纳米级定位精度,并可选配高精度传感器进行闭环精...
共 800 条记录,当前 3 / 67 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页