描述：本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔 效应样品支架、标准样品、系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-50A型效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一 体，大大减化了实验的连线与操作.BSRH-500型霍尔系数仪 可单独做恒流源、微伏表使用。 用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。

BSRH-500型霍尔系数仪

关键词：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数

本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔 效应样品支架、标准样品、系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-50A型效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一 体，大大减化了实验的连线与操作.BSRH-500型霍尔系数仪  可单独做恒流源、微伏表使用。 用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数， 而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系 统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性的工具。 实验结果由软 件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、 表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率 (Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance) 等等。

一、主要技术参数：

电阻率检测范围: 10^-4Ω·cm ~ 10⁶Ω·cm

载流子浓度检测范围: 10^-7~ 10²¹cm^-3

载流子迁移率检测范围: 10^-1~ 10⁷cm²(V·s);

温度测量范围:室温;

可测试样品尺寸:边长或直径:10mm-20mm，厚度: ～lmm;

测试氛围:支持真空与惰性气体。

二、可测试材料类型：半导体材料：SiGe,SiC,InAs,InGaAs,InP,AlGaAs, HgCdTe和铁氧体材料等

低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、 弱磁性半导体材料、TMR材料等

高阻抗材料：半绝缘的GaAs,GaN,CdTe等

材料导电粒子：材料的P型与N型测试

电源：220V,50/60HZ

设备重量：150KG