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aixPES-DR铁电自放电测试仪
本设备主要用来研究电介质材料的自漏电性。由于测试条件非常接近实际情况,因此通过这种方式可容易地测试应用于DRAM材料的合适性。技术说明:
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TF Analyzer 3000铁电压电分析仪
TF Analyzer 3000铁电压电分析仪 TF ANALYZER 3000E是一款扩展性的高速型模块化铁电压电分析仪,具备铁电、压电、热释电材料所有基本特性测试功能,可与激光干涉仪和SPM扫描探...
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TF Analyzer 2000E铁电压电分析仪
TF ANALYZER 2000E是一款扩展性的模块化铁电压电分析仪,具备铁电、压电、热释电材料所有基本特性测试功能,可与激光干涉仪和SPM扫描探针显微镜等微位移传感器联用,可广泛地应用于如各种铁电/...
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TF Analyzer 1000铁电压电分析仪
铁电压电分析仪 TF Analyzer 1000TF ANALYZER 1000是一款紧凑型铁电压电分析仪,具备铁电、压电材料所有基本特性测试功能,可与激光干涉仪和SPM扫描探针显微镜等微位移传感器联...
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FeRAM铁电随机存储器测试仪
内存窗口信息是基于对器件*集成后进行模拟电滞回线测量后得出的。应用领域:铁电存储器的生产生产过程中的质量控制,以便不会影响到CMOS生产过程在MHz的操作速度下,单级电滞回线数据优点:生产过程的工艺优...
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铁电迟豫电流测试仪 aixPES-RX
本设备主要用来研究电子陶瓷材料的迟豫性能,也就是介电体和铁电材料的极化和去极化电流的,即施加电压阶跃后的电流响应。该测试能将材料的驰豫电流和漏电流分开,并可记录极化响应电流和去极化响应电流。技术说明:
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双光束激光干涉仪 aixDBLI
双光束激光干涉仪专门用于压电薄膜的蝴蝶曲线和纵向压电系数d33的测试。这一台适合于从小尺寸薄膜到8英寸晶圆表征的双光束激光干涉仪。半自动的系统用于8“晶圆上的MEMS器件的压电性和电性相关性能的测试。...
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热释电性能测试仪 aixPYM
热释电性能测试仪 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系统主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。薄膜材料变温范围:-196℃到+600℃;块体材料变温范围:室温到2...
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热激发极化电流测试仪 TSDC
热激发极化电流测试仪 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系统除了可以测试材料的铁电、压电、热释电性能外,还可以...
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热电性能测试仪 COMTESSE
热电性能测试仪 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系统主要用于热电性能测试。包括:热导率thermal conductivity, 电导率electrical ...
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机电薄膜e31测试仪 aix4PB
机电薄膜e31测试仪 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的机电性能是MEMS器件设计的关键性能,纵向压电系数d33和横向压电系数...
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高温块体压电分析仪 aixPES-600/800
高温块体压电分析仪 aixPES-600/800本系统主要用于高温下的压电块体陶瓷样品的全面电性能和机电性能的表征。压电测试温度可以达到室温到600℃或室温到800℃两种温度范围。大信号和小信号材料的...
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