JKZC-DCHH系列高低温真空探针台是我司自主研发的一款在环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现 器件及材料表征的IV/CV特性测试，射频测试，光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料，半导体器件等研究方向具有广泛运用。

JKZC-UC系列高低温探针台是一款在非真空条件下实现低温环境的测试探针台。该产品釆用液氮或者空气压缩机制冷 ,自动控温，设备配置非常丰富。自带屏蔽暗室，一方面可以屏蔽无线电磁干扰，另外一方面也可以保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。此设备对于一些有温度需求的测试，尤其是低温，运用非常广泛。

JKZC-DSH系列探针台是我司自主研发的一款双面探针台，最大可完成12英寸晶圆的正反面点针测试。在具备常 规探针台的功能基础上,可用于晶圆和PCB板的测试，对晶圆或者PCB板正面和背面同时扎针以实现各种 光/电性能测试需求的测试，或背面点针，正面收集光线等,运用十分丰富。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。

JKZC-DM系列探针台是我司一款基于高校教育与实验室而研发的基础型晶圆测试探针台。其结构紧凑，设计精密，价格实惠，配置灵活，高性价比。在高等院校教学和小型实验室科研过程中得到了广泛运用，配合对应的仪器仪表，用于测试各类器件的IV、CV、l-t、V-t,光电信号，1/f噪声测试，器件表征测试，RF射频等。如 果您的测试器件pad电极大于50um,此系列探针台。

SCD-1500型半导体C-V特性分析仪创新性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术，适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。半导体C-V特性分析仪测试频率为10kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，足以满足二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体件CV特性测试分析。