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2024-11-25
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全自动ZKSJD-600型高低温介电温谱仪用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线，可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。测温范围从-190℃-600℃，满足目前条件下测试的要求，同时高低温阻抗。
GDPT-900A型高低温压电材料测试仪+ZJ-4型D33测试仪（静压电系数d33测量仪）是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器，可以测量任意形状的压电陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基础上添加了薄膜拉伸装置，可以更加直观的了解薄膜在拉伸条件下的D33数值。对试样大小及形状无特殊要求，圆片、圆环、圆管、方块、长条、柱形及半球壳等均可测量，增加了对被测元件的放电保护
模式测量电路，与传统的 Sawyer-Tawer-模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度取决于积分器积分电容的精度，减少了对测试的影响环节,比较容易定标和校准，且能实现较高的测量准确度它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线还可以定量得到铁电薄膜材料的和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流k等参数，以及对铁电薄膜材料的铁电劳性能、铁电保持性能的测试，能够较全面确地测量铁
TDZT-04C 铁电材料测试仪 关键词：电滞回线，疲劳，脉冲，漏电流， TDZT-04C铁电测试仪通过全局总线进行控制，可以有效提高仪器控制速度及安全水平。设备采用孔浮地技术，可有效地降低电荷泄露造成的驱动能力弱及电压泄露隐患。高压部分与低压部分通过浮地结构隔离，并在低压部分配置有高压放电管及附属设施，从而避免因高压泄露造成的损害。 本次研发采用DDS数字脉冲输出技术，可以在技术
ZJ-4型宽量程型D33系数综合测试仪,压电测试仪（静压电系数d33测量仪）是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器，可以测量任意形状的压电陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基础上添加了薄膜拉伸装置，可以更加直观的了解薄膜在拉伸条件下的D33数值。对试样大小及形状无特殊要求，圆片、圆环、圆管、方块、长条、柱形及半球壳等均可测量，增加了对被测元件的放电保护、放电提示以及被测波形输出等功能
JKZC-JMZK25高频精密压电阻抗分析仪是一款新的使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~25MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。,提供内部偏置电压±40V偏置电压源，有多种测试夹具电导率σ·介电常数ε的运算功能，是压电材料，电阻，电容，电器等得重要检测设备。
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