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2024-11-25
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热刺激理论是在介质物理的基础上发展起来的，研究这一理论的方法即热刺激法比较简单实用而且又能较准确地测量出某些物质（如电介质、绝缘材料、半导体、驻极体等）的微观参数，热刺激法是一面对材料升温一面进行测量，即非等温测量。由于材料（例如介电材料）中的荷电粒子的微观参数（如活化能h、松弛时间τ等）不同，用热刺激法就很容易将材料中的各种不同h或τ的荷电粒子分离开来，从而求出各自的参数。因为热刺激电流与材料的
TDT-3000 Analyzer型扩展型铁电分析仪 是一款的高速型模块化铁电压电分析仪，具备铁电、压电、热释电材料所有基本特性测试功能，可与激光干涉仪和SPM扫描探针显微镜等微位移传感器联用，可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。 模块化设计的TDT-3000型铁电分析仪 具有优异的扩展性，提供高达15中测试功能
TF ANALYZER 1000是一款紧凑型铁电压电分析仪，具备铁电、压电材料所有基本特性测试功能，可与激光干涉仪和SPM扫描探针显微镜等微位移传感器联用，适用于薄膜、厚膜和块状陶瓷及铁电器件等分析测试。
ZJ-4型静压电D33电压电流测试仪是一款在原来的设备基础上，额外增加了电压和电流采集系统的功能，该功能主要是针对压电PVDF薄膜，在不同的运动和力的变化条件下，测试其压电性能变化，是研究压电薄膜性能的重要设备。也是本仪器是从事压电材料及压电元件生产、应用与研究部门的仪器。 二、参考标准: GB3389.4-82《压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试》GB/T3389.5-
JKZC-YDZK03B型压电介电阻抗分析仪是一款可以跟PC链接测试功能的压电介电阻抗分析仪，内置±12 V，±24V直流电压，可以量测压电/超声器件之导纳圆绘图，电容/半导体材料/变容二级管量测DC偏压特性(C-V 曲线)，高分子材料/介质材料/电化学阻抗测量介电常数εr，采用自动平衡技术，测试数据可靠，满足目前试验测试要求，解决了目前测试压电D33系数，又要测试压电阻抗的系列问题，为材料研究测
ZJ-4BN型压电压电薄膜D31测试仪（静压电系数d33测量仪）是为测量压电材料的d33,D15块体，D15圆管，D31薄膜系数常数而设计的专用仪器，它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷，小压电常数的压电单晶及压电高分子材料。特别是薄膜D31系数采用拉伸悬梁臂法进行压电常数测试，是一种新的测试方法，对于研究压电材料和压电PVDF薄膜有着重要意义，在材料生产和薄膜研究中有这要意义。 二、主要应用领
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