当前位置:首页  >  产品中心  >  材料电学性能测试仪  >  高低温介电材料测试仪  >  CGJDN-1200型超高温介电温谱仪
型号:
CGJDN-1200型超高温介电温谱仪

描述:CGJDN-1200型超高温介电温谱仪是一款提供超高温环境的高温介电温谱仪,该仪器采用红外镀金聚焦炉或电加热技术, 双屏蔽高频测试线缆、抗电网谐波模块,确保高频弱信号测量稳定性. 支持4个样品同步测量,提升效率, 可叠加0–5000V直流高压,研究材料在外电场下的性能变化,是目前高校和研究所研究材料的重要设备。

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2025-06-27
  • 访问量

    74
详细介绍
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保,能源,电子/电池,电气,综合

关键词:超高温,介电温谱,阻抗 

CGJDN-1200型超高温介电温谱仪

       CGJDN-1200型超高温介电温谱仪是一款提供超高温环境的高温介电温谱仪,该仪器采用红外镀金聚焦炉或电加热技术, 双屏蔽高频测试线缆、抗电网谐波模块,确保高频弱信号测量稳定性. 支持4个样品同步测量,提升效率, 可叠加0–5000V直流高压,研究材料在外电场下的性能变化,是目前高校和研究所研究材料的重要设备。

主要测试指标:

       1、 Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc;

      2、 高低温介电测试系统用于高低温环境下材料、器件的介电性能测试与分析,可测试以下参数随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律:电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数,同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和介电损耗参数。

     3、 系统操作简单、方便,可灵活定制测试项目。测试材料的介电频谱、阻抗频谱、介电温谱、阻抗温谱、导纳谱、cole-cole图以及C-V特性。

一、核心组成与工作原理

系统架构

高温测试平台:提供高温环境(室温至1200),采用红外镀金聚焦炉或电加热技术,控温精度可达±0.1

测试夹具:三电极法设计,铂铱合金或氧化铝-铂金复合探针,支持真空气氛环境测试,减少寄生电容干扰。.

阻抗分析仪:频率范围10Hz–50MHz,精度0.05%,支持复阻抗谱(Cole-Cole图)及机电耦合系数分析。

控制软件:集成Labview系统,支持介电温谱/频谱、升温程序(匀速/阶梯/循环)、数据自动保存与异常保护。

关键技术

抗干扰设计:双屏蔽高频测试线缆、抗电网谐波模块,确保高频弱信号测量稳定性1

多通道测试:支持4个样品同步测量,提升效率410

高压扩展:部分型号(如GWGYJD-1000W)可叠加0–5000V直流高压,研究材料在外电场下的性能变化

主要技术参数:

1、探针台外形尺寸:180*160*35mm±5mm;样品台可固定在光学平台上,温度控制器通过网线和计算机联络;

2、探针要求:钨钢镀金探针,可满足高温下的介电温谱测试;

3、冷热方式:电阻加热;

4、温控范围:RT~1200℃;

5、温度稳定性:使用温度<1000℃时,温度精度±0.1℃,且使用温度≥1000℃时温度精度±0.5℃;

6、温度分辨率:0.01℃;

7、升降温速率:全温度区间0~30℃/min(可定点/程序段控温)

8、温控方式:PID;

9、温度传感器:热电偶;

10、视窗材质:石英玻璃(可手动拆卸更换);

11、视窗尺寸:φ25mm;

12、探针:固定式探针*5;

13、探针接口:BNC*5;

14、样品台尺寸:35*35mm;

15、样品台材质:陶瓷;

16、样品腔高度:≥6mm;

17、腔室:气密腔室;

18、外壳冷却:循环水。

19、适配介电温谱测试系统(4通道);提供4通道介电温谱测试软件;

19.1、测试系统需自带校准程序,在电脑端操作控制探针台升降温速率,目标温度,可分段控制升温速率,具备即时记录温度点。

19.2、多频率同时采集,操作简单,所有测试结果实时保存,测试过程曲线绘制。

19.3、测试频率:20Hz—2MHz;

19.4、测试激励电平:0至2Vrms/0至20mArms;

19.5、测试指标:Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc;

19.6、测试精度:0.05%;

19.7、测量时间:12ms(SHORT),118ms(MED),343ms(LONG)@1MHz;

19.8、支持ALC自动电平控制;

19.9、可支持201点的扫频测量,可编程,可任意设置频率,测量范围以及激励条件并自动绘制显示阻抗随频率变化曲线;

19.10、支持线缆夹具补偿校准以及电缆延长补偿功能。

 


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7