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2016-12-06
+2022-11-26
+2024-02-26
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详细介绍
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 环保,能源,电子/电池,电气,综合 |
关键词：超高温，介电温谱，阻抗
CGJDN-1200型超高温介电温谱仪是一款提供超高温环境的高温介电温谱仪，该仪器采用红外镀金聚焦炉或电加热技术, 双屏蔽高频测试线缆、抗电网谐波模块，确保高频弱信号测量稳定性. 支持4个样品同步测量，提升效率, 可叠加0–5000V直流高压，研究材料在外电场下的性能变化,是目前高校和研究所研究材料的重要设备。
主要测试指标：
1、 Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc；
2、 高低温介电测试系统用于高低温环境下材料、器件的介电性能测试与分析，可测试以下参数随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和介电损耗参数。
3、 系统操作简单、方便，可灵活定制测试项目。测试材料的介电频谱、阻抗频谱、介电温谱、阻抗温谱、导纳谱、cole-cole图以及C-V特性。
一、核心组成与工作原理
系统架构
高温测试平台：提供高温环境（室温至1200℃），采用红外镀金聚焦炉或电加热技术，控温精度可达±0.1℃。
测试夹具：三电极法设计，铂铱合金或氧化铝-铂金复合探针，支持真空气氛环境测试，减少寄生电容干扰。.
阻抗分析仪：频率范围10Hz–50MHz，精度0.05%，支持复阻抗谱（Cole-Cole图）及机电耦合系数分析。
控制软件：集成Labview系统，支持介电温谱/频谱、升温程序（匀速/阶梯/循环）、数据自动保存与异常保护。
关键技术
抗干扰设计：双屏蔽高频测试线缆、抗电网谐波模块，确保高频弱信号测量稳定性1
多通道测试：支持4个样品同步测量，提升效率410。
高压扩展：部分型号（如GWGYJD-1000W）可叠加0–5000V直流高压，研究材料在外电场下的性能变化
主要技术参数：
1、探针台外形尺寸：180*160*35mm±5mm；样品台可固定在光学平台上，温度控制器通过网线和计算机联络；
2、探针要求：钨钢镀金探针，可满足高温下的介电温谱测试;
3、冷热方式：电阻加热；
4、温控范围：RT~1200℃；
5、温度稳定性：使用温度<1000℃时，温度精度±0.1℃，且使用温度≥1000℃时温度精度±0.5℃;
6、温度分辨率：0.01℃；
7、升降温速率：全温度区间0~30℃/min（可定点/程序段控温）
8、温控方式：PID；
9、温度传感器：热电偶；
10、视窗材质：石英玻璃（可手动拆卸更换）；
11、视窗尺寸：φ25mm；
12、探针：固定式探针*5；
13、探针接口：BNC*5；
14、样品台尺寸：35*35mm；
15、样品台材质：陶瓷；
16、样品腔高度：≥6mm；
17、腔室：气密腔室；
18、外壳冷却：循环水。
19、适配介电温谱测试系统（4通道）；提供4通道介电温谱测试软件；
19.1、测试系统需自带校准程序，在电脑端操作控制探针台升降温速率，目标温度，可分段控制升温速率，具备即时记录温度点。
19.2、多频率同时采集，操作简单，所有测试结果实时保存，测试过程曲线绘制。
19.3、测试频率：20Hz—2MHz；
19.4、测试激励电平：0至2Vrms/0至20mArms；
19.5、测试指标：Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc；
19.6、测试精度：0.05%；
19.7、测量时间：12ms(SHORT),118ms(MED),343ms(LONG)@1MHz；
19.8、支持ALC自动电平控制；
19.9、可支持201点的扫频测量，可编程，可任意设置频率，测量范围以及激励条件并自动绘制显示阻抗随频率变化曲线；
19.10、支持线缆夹具补偿校准以及电缆延长补偿功能。
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