JSDT-300A型智能金属导线、棒材电阻率仪能便携全自动测量导线、棒材电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。

JSRT-1000型金属线材电阻率测试仪是一款针高分辨率、高精度的台式机型，可用于金属线材、棒材等材料电阻率、电导率测量及绞合电线电缆电阻、米电阻的高精度测量。 集优良电子技术、单片机技术、自动检测技术于一体、自动化功能强，操作简单。 仅按一次键，所有测量数值即可获得，无需任何计算，适合于连续、快速、准确检测。 交流电及电池供电设计，适用于现场及野外使用。是目前高校和生产单位及国家电网等的电

JBRT-300型智能金属箔电阻率测量仪是一款便携全自动测量金属箔、金属薄带的电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。应用电流–电压降四端子测量法、优良的电子技术、单片机技术及自动检测技术设计的高新产品。其性能符合GB/T22638.6－2016中的相关技术要求。广泛应用于金属箔、金属薄带、电池极耳等新能源领域及电力电工、电机电器、高等院校、科研单位等行业。

HTIM-300高低温材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、锑化铟（InSb），三元化合物半导体GaA

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备，测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具，通过软件可以采集到介损（tgd）及介电常数（ε）器件的介电性能测量与分析，可测试以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反

PV520A-S超声元件阻抗分析仪是由清华大学自动化系和中国科学院声学所共同研制开发的。测试如下以及十多个参数：谐振频率 Fs 、大电导 Gmax 、带F2-F1 、反谐振频率 Fp 、品质因数 Qm 、自由电容 CT 、动态电阻 R1 、动态电感L1 、动态电容 C1 、静态电容 C0 、有效机电耦合系数 Keff 。用于压电超声器件和设备的检测综合性解决方案.也是目前高校和生产单位的重要检测仪