JBRT-300型智能金属箔电阻率测量仪是一款便携全自动测量金属箔、金属薄带的电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。应用电流–电压降四端子测量法、优良的电子技术、单片机技术及自动检测技术设计的高新产品。其性能符合GB/T22638.6－2016中的相关技术要求。广泛应用于金属箔、金属薄带、电池极耳等新能源领域及电力电工、电机电器、高等院校、科研单位等行业。

HTIM-300高低温材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、锑化铟（InSb），三元化合物半导体GaA

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备，测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具，通过软件可以采集到介损（tgd）及介电常数（ε）器件的介电性能测量与分析，可测试以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反

PV520A-S超声元件阻抗分析仪是由清华大学自动化系和中国科学院声学所共同研制开发的。测试如下以及十多个参数：谐振频率 Fs 、大电导 Gmax 、带F2-F1 、反谐振频率 Fp 、品质因数 Qm 、自由电容 CT 、动态电阻 R1 、动态电感L1 、动态电容 C1 、静态电容 C0 、有效机电耦合系数 Keff 。用于压电超声器件和设备的检测综合性解决方案.也是目前高校和生产单位的重要检测仪

TSDC-100型高低温热刺激电流测量仪,热激励去极化电流测量系(thermally stimulated depolar-ization currents,简写为TSDC或TSC)是电介质材料在受热过程中建立极化态或解除极化态时所产生的短路电流。基本方法是将试样夹在两电极之间，加热到一定温度使样品中的载流子激发，然后施加一个直流的极化电压，经过一段时间使样品充分极化，以便载流子向电极漂移或偶极子

PEA-101A+型绝缘材料空间电荷激发及测试系统