JK-600CHG2190型光学冷热台是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。 产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内精准控制，与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成，进行变温原位测试。根据需要，还可以选型光反射或光透射模式。 产品需要与温度控制器、致冷控制器（选配）配套使用，配套的上位机

光学冷热台JK-GH600-190是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。 产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃范围内精准控制，与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成，进行变温原位测试。

光学热台JK-GH600S是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。 产品采用电阻加热的方式，实现RT~600℃范围内精准控制，与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成，进行变温原位测试。

Instruments拉伸机冷热台拉伸机冷热台-JK-CH600LSJ型自调节拉伸机冷热台 是一种安装在万能试验机上研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度下材料的动态应力应变特性测试，可选配DIC、视频引伸计实现应变数据的高精度采集。

JK-150BPE型半导体冷热台又称帕尔贴冷热台，利用半导体的热-电效应制冷，配合循环水散热，在 -30~150℃的温度范围内进行控温，实现样品在开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学、电学等测试。

半导体冷热台JK-120BCH采用半导体致冷，配合低温循环液，实现从-40到180℃（选型）的控温。 结构紧凑，适用于各种变温测试 气密腔室设计，可通保护气体 多探针测试 上位机软件控制 支持改动或定制