JK-CGLS190型常规原位拉伸冷热台是一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。

JK-SEM1900型原位冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。通过外接法兰装置实现对冷热台上的样品进行控温，稳定后温控精度最高可达±0.1℃ 可实现样品变温测试的温度范围：-185~50℃ / -185~200℃，满足原位高低温材料相变微观表征。SEM原位冷热台适合于各种样品在扫描电子显微镜中进行高低温结构研究，固定在现有样品台上

JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台

JK-600GCH2190P4微型探针冷热台产品特点： 结构紧凑，适用于各种变温测试 最大温度范围-190~600℃（选型) 气密腔室设计，可通保护气体 多探针测试 上位机软件控制 支持改动或定制

JK-600CH190P8型常规探针冷热台是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内精准控制，与其他电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。

光学冷热台JK-GH600-190是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。 产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃范围内精准控制，与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成，进行变温原位测试。