JSD-100型金属材料电阻率(微电阻)测试仪为用于金属材料的电阻可视化检测设计，由于银、铜、金、铝等具有较好导电性，这些金属材料在日常使用体积范围时其电阻值就已经很低，通过下图可对其有简单概念，当金属材料为长度10cm丝材时，1mΩ材料电阻值对应的材料截面积(图中数值为直径，单位mm)

系统组成：HEM-200 高低温霍尔效应测试系统本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。本套系统测试应用的是最新的KEITHLEY 进口测试源表，配合配套的低延迟宽带宽的矩阵卡，极大提高了样品的供电电流和测试样品的霍尔电压的量程和精度，宽电流供电和宽电压测试范围可以覆盖市面上绝大多数的半导体器件。用于测量半导体材料的载流子浓度、

HEM-500HA高低温电磁型全自动霍尔效应测试系统本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-320A效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。可单独做恒流源、微伏表使用。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk

非标探针台/微型探针台/倒装手动测试夹具/光电流测试显微镜/TEC制冷卡盘/磁场探针台(无磁设计)/110g以上高频测试探针台/自动测试系统/可升降平台/高精度纳米探针座/毫米级手持式探针夹具/毫米级手持式探针夹具/FA失效分析探针台

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