热释电性能测试仪 aixPYM (Pyroelectric Measurement) 本系统主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。 薄膜材料变温范围：-196℃到+600℃； 块体材料变温范围：室温到200℃、室温到600℃、室温到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五种夹具可选。

热激发极化电流测试仪 TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement) 本系统除了可以测试材料的铁电、压电、热释电性能外，还可以用于测试材料的热激发极化电流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。

热电性能测试仪 COMTESSE (Thermoelectric Measurement) 本系统主要用于热电性能测试。 包括：热导率thermal conductivity, 电导率electrical conductivity, 塞贝克系数Seebeck-Coefficient, Harman ZT等随温度的变化。

机电薄膜e31测试仪 aix4PB (Electromechanical thin film e31 analyzer ) 薄膜材料的机电性能是MEMS器件设计的关键性能，纵向压电系数d33和横向压电系数e31被用于表征传感器和执行器的这些关键性能。 纵向压电系数可由aixDBLI测试，而横向压电系数e31就可用aix4PB系统测试。 通过必要夹具，可以测得正向e31和逆向e31。

高温块体压电分析仪 aixPES-600/800 本系统主要用于高温下的压电块体陶瓷样品的全面电性能和机电性能的表征。 压电测试温度可以达到室温到600℃或室温到800℃两种温度范围。 大信号和小信号材料的特征可以在一定温度范围内表征。样品上的电流响应测量是通过精确的虚拟接地方法衡量电压激励信号。样品的微位移同时通过激光干涉仪进行测量。