产品简介 GWJDN-1000B高温介电温谱分析仪采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一高温介电温谱分析仪，产品全新的电子器件。.了传统国产仪器复杂繁琐的操作界面。基于Windows10操作系统。实现了全电脑化操作界面。让测试更智能、更简便。 T 120MHz的频率瓶颈:解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷:中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的增尬:采用单测和分析两种界面。

TFVT-1000型薄膜变温电阻测试仪一款兼具薄膜和块体（可扩展）的测试各种薄膜材料在高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率，可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。而且可广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。是目前科研和生产的重要材料测量设备。

HTIM-600高温电阻率测试仪是一款针对于材料的测量设备，可以出具CNAS整体认证的专业材料高温测量设备，该仪器采用使用方法多样化，最大2000V，最快6.4ms的采集系统，实现了是以往产品300倍的抗干扰功能最快6.4ms的高速测量，作为皮安表使用进行低电容检查，最高2×10^19 Ω显示，最小0.1fA分辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行设计的悬浮式电路，

HTIM-3高低温材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、锑化铟（InSb），三元化合物半导体GaAsA

GWJDN-4型四通道同屏高温介电温谱测量系统运用三电极法设计原理测量，并参考美国A.S.T.M 标准,采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。高低温介电温谱测量系统(-190℃-1000℃）电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全。

四通道同屏对比测试高温介电温谱测量系统运用三电极法设计原理测量，并参考美国 A.S.T.M 标准。采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。