JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台

JK-600GCH2190P4微型探针冷热台产品特点： 结构紧凑，适用于各种变温测试 最大温度范围-190~600℃（选型) 气密腔室设计，可通保护气体 多探针测试 上位机软件控制 支持改动或定制

JK-600CH190P8型常规探针冷热台是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内精准控制，与其他电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。

光学冷热台JK-GH600-190是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。 产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃范围内精准控制，与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成，进行变温原位测试。

JK-600CHG2190型光学冷热台是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。 产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内精准控制，与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成，进行变温原位测试。根据需要，还可以选型光反射或光透射模式。 产品需要与温度控制器、致冷控制器（选配）配套使用，配套的上位机

光学冷热台JK-GH600-190是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。 产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃范围内精准控制，与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成，进行变温原位测试。