半导体冷热台JK-120BPE、BPE100采用半导体冷热控制，配合循环水散热，实现从-25~120℃（选型）的控温。无需液氮等致冷剂，具有无噪声、无振动等特点。可以实现变温光学测试，或者选配探针实现变温电学测试。

探针冷热台JK-600C是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃范围内精准控制，与其他电学仪表（如电桥、源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。

探针热台JK-600S是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用电阻加热的方式，实现RT~600℃范围内精准控制，与其他电学仪表（如电桥、源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。产品需要与温度控制器配套使用，配套的上位机温控软件方便进行温度设置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客户进行定制化编程。

JKZC-UTS150微型冷热腔是一种适配μTS拉伸台的产品，包含拉伸、压缩、三点弯模块。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-100~50℃ (高温以实际数据为准)温度下材料的动态应力应变特性测试。

原位拉伸冷热台是一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。 原位拉伸冷热台 JK-LS500采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃温度下材料的动态应力应变特性测试，可与显微分析、电学分析相结合。原位拉伸冷热台 FS500需要与温度控制器、制冷控制器（选配）以及原位拉伸控制器配套使用，配套的上位机软件方便进行温度、力学参数设置及数据采集。